доктор технических наук, профессор, заведующий кафедрой теоретической и общей электротехники. Ректор Дагестанского государственного технического университета, Заслуженный деятель науки РФ,
367026, г. Махачкала, пр. Имама Шамиля, д.70
Dr. Sci.(Technical), Prof., Department of Theoretical and General electrical engineering. The rector Daghestan State Technical University. Honored worker of science of the Russian Federation,
70 I. Shamil Ave., Makhachkala 367026
кандидат технических наук, доцент, заведующий кафедрой радиотехники и телекоммуникаций,
367026, г. Махачкала, пр. Имама Шамиля, д.70
Cand. Sci.(Technical), Assoc. Prof., Department of Theoretical and General electrical engineering,
70 I. Shamil Ave., Makhachkala 367026
аспирант, кафедра теоретической и общей электротехники,
367026, г. Махачкала, пр. Имама Шамиля, д.70
Graduate student, Department of theoretical and General electrical engineering,
70 I. Shamil Ave., Makhachkala 367026
Цель. Разработка устройства кусочно-линейной аппроксимации переходной характеристики для контроля на автоматизированной системе производственного диагностирования параметров электрорадиоизделий на функциональных ячейках.
Методы. Для контроля дефектных электрорадиоизделий на функциональных ячейках разработана новая измерительная входная цепь для получения интегральных переходных характеристик, причем параметры цепи могут быть программно изменены. При этом нет необходимости в исключении шунтирующего влияния соседних элементов на функциональных ячейках, т.к. будут учтены параметры всех электрорадиоизделий, подключенных к контролируемым точкам и все они будут оказывать влияние на формирование переходного процесса.
Результат. Входная измерительная интегрирующая цепь способна контролировать переходные характеристики как отдельных электрорадиоизделий, так и групп, состоящих из разнотипных активных и пассивных электрорадиоизделий. Установлена зависимость между систематической погрешностью при кусочно-линейной аппроксимации переходных характеристик электрорадиоизделий на функциональных ячейках и постоянной времени Т входной цепи блока измерения. Минимальная величина систематической погрешности будет получена при постоянной времени входной цепи равной 0,001сек.
Вывод. Преобразователь формы информации в автоматизированной системе производственного диагностирования для контроля переходных характеристик, снимаемых с диагностируемых электрорадиоизделий после подачи стимулирующего перепада напряжения, позволит значительно снизить время на контроль каждой функциональной ячейки за счет более быстрого процесса преобразования и более простого процесса сравнения с эталоном.
Objective. The development of a device for the piecewise-linear approximation of a transient response for controlling an automated system of the production diagnosis of electronic component parameters on functional cells.
Methods. A new measuring input circuit was developed for the control of defective electronic components on functional cells in order to obtain the integral transient response, provided that circuit parameters can be programmatically altered. In this case, there is no need to exclude the shunting influence of neighbouring elements on functional cells, since all parameters of all electronic equipment connected to the controlled points are taken into account and will influence the formation of the transient process.
Results. The input measuring integrated circuit is capable of controlling the transient responses of both individual electronic components and their groups, consisting of various types of active and passive electronic components. The dependency between the systematic error in the piecewise-linear approximation of the transient response of the electronic components on functional cells and the time constant (T) of the input circuit of the measurement unit is established. The minimum value of the systematic error will be obtained with a time constant of the input circuit equal to 0.001 sec.
Conclusion. The information form converter in the automated production diagnostic system for monitoring transient response from the diagnosed electronic components after the stimulating voltage drop has been applied will significantly reduce the time for monitoring each functional cell due to a faster conversion process and a simpler process for comparison with reference.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.